ESTUDO COMPARATIVO DE FILMES FINOS DE CeO2-TiO2 E CeO2-SnO2 PREPARADOS PELO MÉTODO DOS PRECURSORES POLIMÉRICOS


Adriane V. Rosário (PG) e Ernesto C. Pereira (PQ)

Laboratório Interdisciplinar de Eletroquímica e Cerâmica – LIEC, Departamento de Química, Universidade Federal de São Carlos – UFSCar

C.P. 676 – CEP 13565-905 – São Carlos – SP

e-mail: pavr@iris.ufscar.br


“palavras-chave” : óxidos mistos, eletrodos transparentes, planejamento fatorial


Filmes finos de CeO2-TiO2 vêm sendo amplamente utilizados como contra-eletrodos para dispositivos eletrocrômicos1 Recentemente, estudos têm revelado que filmes a base de óxidos mistos de cério e estanho também podem apresentar boas propriedades de armazenamento de carga e transparência, essenciais a um bom contra-eletrodo.

Este trabalho teve por objetivos sintetizar e caracterizar filmes de CeO2-TiO2 e CeO2-SnO2, utilizando a metodologia de planejamento fatorial para verificar os efeitos das variáveis de preparação.

Os filmes dos óxidos mistos foram preparados pelo método de Pechini2. Um poliéster foi formado a partir de ácido cítrico (AC) e etileno glicol (EG), em presença de íons metálicos. Nitrato cérico amoniacal, isopropóxido de titãnio (IV) e citrato de estanho foram empregados como precursores metálicos. Para a obtenção dos filmes as resinas precursoras foram depositadas sobre lâminas de ITO pela técnica de “dip-coating”, e em seguida submetidas a tratamento térmico para eliminação da matéria orgânica e formação do óxido. A influência das variáveis de preparação sobre as propriedades dos sistemas CeO2-TiO2 e CeO2-SnO2 foi avaliada através da metodologia de planejamento fatorial. As variáveis investigadas e seus respectivos níveis são mostrados na Tabela I.

TABELA I - Variáveis de preparação dos sistema CeO2-TiO2 e CeO2-SnO2

Fatores

Nível (-)

Nível (+)

F1- AC/EG (M/M)

1:4

1:16

F2- AC/Mtotal (M/M)

10:1

20:1

F3- Ce/Ti ou Ce/Sn (M/M)

30:70

70:30

F4- temperatura de calcinação. (ºC)

500

580

F5- tempo de calcinação (s)

30

120

Mtotal =concentração total dos metais (Ce + Ti ou Ce+Sn)

Medidas cronoamperométricas foram realizadas com saltos de potencial de 0,5V para –1,5V (redução) e de –1,5V para 0,5V (oxidação). Os valores de densidade de carga obtidos revelaram que os filmes de CeO2-SnO2 são melhores materiais intercalantes do que os filmes de CeO2-TiO2. Os resultados de densidade de carga catódica, relacionados aos processos de redução e intercalação, também foram utilizados como resposta na análise dos planejamentos fatoriais. Os resultados das estimativas mostraram que a variável de maior influência foi a razão molar AC/EG (-4,1625mAcm-2 e -16,5050 mAcm-2 para CeO2-TiO2 e CeO2-SnO2, respectivamente).

A Fig. 1 mostra os voltamogramas cíclicos de filmes de CeO2-TiO2 e CeO2-SnO2. As curvas caracterizam-se por um processo catódico, onde verifica-se um aumento de corrente até o potencial de inversão, seguido de um processo de oxidação (extração de Li+), que apresenta-se na forma de um pico largo. Comparando-se as respostas voltamétricas dos dois sistemas, observa-se que, o sistema CeO2-SnO2 também apresenta maiores valores de carga, 18,11mCcm-2 contra 9,91mCcm-2 do CeO2-TiO2. Outra observação importante, é que as regiões catódicas dos dois voltamogramas são bastante distintas, sendo que uma densidade de carga muito superior pode ser obtida com os filmes de CeO2-SnO2 a potenciais menores do que para os filmes de CeO2-TiO2.




Fig. 1 – Voltamogramas cíclicos dos filmes preparados sob as mesmas condições: (____) CeO2-TiO2(01) e (-----) CeO2-SnO2(01), v=50 mV/s e T= 25oC.



Os filmes foram ainda caracterizados através de medidas de transmitância. Tanto os filmes de CeO2-TiO2 como os filmes de CeO2-SnO2 não apresentaram nenhuma variação ótica quando os mesmos foram polarizados catódicamente, embora seja conhecida a propriedade eletrocrômica de filmes de TiO2. Os valores de transmitância medidos no comprimento de onda de 620 nm, mostraram que estes filmes possuem boa transparência (>92%), com exceção das amostras com maior concentração de Ce, cujos valores foram de 33,01% para o CeO2-TiO2 e 68,54% para o CeO2-SnO2.



1. BAUDRY, P. RODRIGUES, A. C. M. AEGERTER, M. A. BULHÕES, L. O. S. Journal of Non-Crystalline Solids, 121, 1990, 319-322.

2. PECHINI, M. P. Pat. EUA, no 3.330.697, julho, 1967


[FAPESP, CNPq, PADCT-III, PRONEX]