CARACTERIZAÇÃO ELÉTRICA DO FENÔMENO DE DEGRADAÇÃO À BAIXA TEMPERATURA DA ZIRCÔNIA TETRAGONAL

A. P. Santos (PQ)* , R. Z. Domingues (PQ)** and Michel Kleitz (PQ)***

* Centro de Desenvolvimento da Tecnologia Nuclear (CDTN/CNEN), C.P. 941, 30123-970, Belo Horizonte, MG e-mail:adelina@urano.cdtn.br

** Departamento de Química, UFMG, C.P.702, 31270-901 Belo Horizonte, MG

*** Laboratoire d’Electrochimie et de Physicochimie des Materiaux et des Interfaces, INPG-CNRS, BP 75, 38402 Saint-Martin d’Hères, France

Palavras-chaves: zircônia, transformação de fase, espectroscopia de impedância

Cerâmicas contendo a fase tetragonal da zircônia (t-ZrO2) constituem uma importante classe de materiais estruturais. Valendo-se de um fenômeno de reforçamento mecânico associado à transformação de fase tipo martensítica tetragonal ® monoclínica, estes sistemas apresentam propriedades mecânicas excepcionalmente elevadas em se tratando de materiais cerâmicos, tais como alta tenacidade e alta resistência à fratura(1). Entretanto, quando as peças cerâmicas são submetidas a tratamentos térmicos a baixas temperaturas (principalmente entre 200-300° C) observa-se a deterioração gradual das propriedades mecânicas(2) devido à transformação espontânea, sem a aplicação de tensão externa, de grãos tetragonais metaestáveis para a simetria monoclínica, limitando sua aplicação. Tem sido demonstrado que tal degradação inicia-se na superfície em direção ao centro, é catalisada por água e pode vir acompanhada de micro e macrofissuras(3). Em um trabalho anterior, temos definido as condições experimentais para caracterizar o fenômeno de degradação da zircônia tetragonal estabilizada por ítria por espectroscopia de impedância (EI) e evidenciado o aparecimento de um semicírculo extra nos espectros de amostras degradadas. O objetivo do presente trabalho é variar sistematicamente alguns parâmetros que ativam a degradação, buscando estabelecer correlações entre parâmetros elétricos relativos à relaxação adicional, determinados a partir do ajuste dos espectros de impedância, e o conteúdo de fase monoclínica determinada por difratometria de raios-X (DRX).

As amostras foram preparadas a partir de um pó cerâmico comercial (TOSOH Corporation, Japão), o qual contém 2,8 mol% de Y2O3. O pó foi prensado a 250 MPa e posteriormente sinterizado ao ar em duas etapas: a 1350° C por 1h e a 1500° por 3h, com taxas de aquecimento e resfriamento de 100 ° Ch- 1. Antes de serem levadas à etapa final de sinterização, as amostras foram usinadas com ferramentas diamantadas na forma de cilindros de aproximadamente 8 mm de diâmetro e 3 mm de espessura. Todas as amostras apresentaram apenas as reflexões da fase tetragonal após a sinterização final. A densidade média das pastilhas foi igual a 6,08 ± 0,03 (acima de 99% da densidade teórica). Duas séries de tratamentos térmicos foram realizadas, fazendo-se variar o tempo e a atmosfera de tratamento (Tabela I). Após cada tratamento térmico as amostras foram analisadas por DRX na região de baixos ângulos (27,5 e 32,5° ) . A fração de fase monoclínica (Vm) presente na superfície foi estimada através da expressão proposta por GARVIE e NICHOLSON(5), através das intensidades integradas das reflexões observadas nesta região (Tabela I). As medidas de EI foram realizadas a 350° C, utilizando-se eletrodos de prata depositados por "sputtering" e o impedancímetro HP4192ALF trabalhando na faixa de freqüência de 5 a 1,3.107 Hz e com amplitude de 150 mV.

O aparecimento de uma terceira relaxação foi observada em todas as amostras degradadas, como ilustrado na Fig.1 para as amostras da Série 1. A razão percentual (R3/RT) da resistência do semicírculo extra (R3) em relação à resistência total (RT) foi calculada fazendo-se o ajuste dos espectros no plano de impedância (Tabela I). O tamanho da camada transformada na maioria das amostras excedeu a profundidade de penetração da radiação CuKa e apenas o conteúdo saturado de fase monoclínica (Vm @ 60%) pôde ser determinado por DRX(6). O parâmetro elétrico (R3/RT), entretanto, mostrou-se sensível à evolução da degradação dos sistemas nas duas séries de tratamentos térmicos, evidenciando a potencialidade da técnica de espectroscopia de impedância para caracterizar o fenômeno.

Tabela I: Resumo dos resultados de DRX e espectroscopia de impedância

Série/ condições

Parâmetros

variados

Vm / %

(DRX)

Semicírculo

extra?

1-

0

0

não

0

250° C

2

60

sim

8

ar ambiente

4

60

sim

12

 

6 dias

61

sim

16

2-

ar seco

11

sim

2

250° C

ar ambiente

60

sim

12

4 dias

ar úmido

60

sim

17

(CAPES, INPG, CNRS)


  1. R. C. Garvie, R. H. Hannink, R. T. Pascoe, Nature (London), 258, 703, 1975.
  2. S. Lawson, J. Eur. Ceram. Soc. 15, 485, 1995.
  3. K. Kobayashi, H. Kuwajima, T. Masaki, Solid State Ionics 3/4, 489, 1981.
  4. A. P. Santos, R. Z. Domingues, Mater. Res. Soc. Proc., Boston, MA, 1999. Aceito para publicação.
  5. R. C. Garvie, P. S. Nicholson, J. Am. Ceram. Soc. 55(6), 303, 1972.
  6. S. Lawson, P. A. Smith, J. Am. Ceram. Soc. 76(12), 3170, 1993.