VARIAÇÃO DO ÍNDICE DE REFRAÇÃO DE UMA INTERFACE SÓLIDO-LÍQUIDO PRÓXIMO AO ÂNGULO CRÍTICO
Marcelo Martinelli (PG)1, Marcos Gugliotti (PG)2, Mauricio S. Baptista (PQ)2,
Mario J. Politi (PQ)2, Ricardo Horowicz (PQ)1
1Dept. de Física Experimental, Instituto de Física, Universidade de São Paulo
2Dept. de Bioquímica, Instituto de Química, Universidade de São Paulo
palavras-chave: varredura-Z por reflexão, lente térmica, ângulo crítico
Introdução e objetivos: Um dos mais simples e precisos métodos para a medida da não-linearidade em materiais é o de Varredura-Z por transmissão1. Este método baseia-se na análise de distorções de um feixe de laser com perfil Gaussiano, as quais têm sua orígem em efeitos não-térmicos, como por exemplo, polarização não-linear e gradiente de estados excitados. Variações desta técnica (conhecidas como Varredura-Z por Reflexão, ou RZ-scan) permitiram a sua aplicação em amostras opacas, sendo que a aplicação mais recente apresenta um aumento relativo na não-linearidade quando a medida é realizada próximo ao ângulo de Brewster2. O princípio empregado é o mesmo em todos os casos, ou seja, as não-linearidades absortiva e refrativa são calculadas com base na focagem (ou defocagem) de um feixe de laser e na variação de sua amplitude (intensidade). Recentemente, foi desenvolvida uma instrumentação baseada na técnica de Lente Térmica (LT)3 para o estudo de interfaces4. Neste caso, a focagem (ou defocagem) do feixe refletido é devida ao gradiente de índice de refração induzido pela geração de calor na amostra. No presente trabalho é apresentada uma técnica de RZ-scan por efeito térmico cuja medida, realizada próxima ao ângulo crítico (qc), possui uma sensibilidade quatro vezes maior em relação à medida em incidência normal.
Métodos: A amostra utilizada foi uma solução opaca de níquel tetrassulfoftalocianina (NiPTS) dissolvida em água:etanol (1:1). Uma placa de vidro foi colada na base de um prisma BK7 (n=1,515), formando uma cela de 1 mm de espessura, a qual foi totalmente preenchida com a solução. O prisma foi preso sobre um goniômetro com precisão de 0,1o montado sobre uma plataforma móvel acionada por um motor de passo. A amostra deslocou-se na direção de propagação do feixe de um laser de He-Ne, 632,8 nm, cw, TEM00, com cerca de 10 mW de potência. O índice de refração da solução foi calculado com base na determinação do ângulo de Brewster, e seu valor usado para o cálculo de qc, cujo valor encontrado foi de 63,7o. Dois detectores foram usados para as medidas de intensidade no centro do feixe e de amplitude (sinal integrado), as quais foram normalizadas pela medida em um detector de referência. O laser foi modulado por um obturador, ajustado para operar no intervalo de 500 ms para exposição e bloqueio, e focado na amostra por uma lente com distância focal de 8,8 cm. O controle da instrumentação e a aqusição dos dados foram feitos por um computador.
Resultados e Conclusão: A variação do termo não-linear (Dno), responsável pela mudança no índice de refraçao, foi medida deslocando-se a amostra ao longo da
direção
de propagação do laser, determinando a intensidade do
feixe refletido. Do ajuste pelo modelo desenvolvido foi obtido o
valor de (2,5±0,1)10-3
para Dno.
Já a dependência angular dos sinais de fase+amplitude e
amplitude é mostrada na Figura 1. A amostra foi posicionada de
forma a se obter o máximo sinal de LT, isto é, na
posição que corresponde à
vezes a distância confocal zc (veja ref. 3). Um
aumento em ambos os sinais é observado próximo à
qc.
Figura 1: Variação dos sinais de fase+amplitude (círculo cheio) e amplitude (círculo vazio) em função do ângulo de incidência na interface prisma-solução.
A variação do sinal de fase+amplitude pode envolver deformação de superfície, e necessita de um estudo mais detalhado. Já a variação de amplitude pode fornecer informações sobre a variação do índice de refração5, além de apresentar uma sensibilidade 4 vezes maior nas proximidades de qc. Este método tem a vantagem de poder ser aplicado tanto para amostras transparentes como para opacas.
Referências: 1) M. Sheik-bahae, A. A. Said, E. W. Van Stryland, "High sensitivity, single beam n2 measurements", Optics Letters, 14, 955 (1989); 2) M. Martinelli, S. Bian, J. R. Leite, R. J. Horowicz, "Sensitivity-enhanced reflection Z-scan by oblique incidence of a polarized beam", Applied Physics Letters, 72, 1 (1998); 3) S. J. Sheldon, L. V. Knight, J. M. Thome, "Laser-induced thermal lens effect: a new theoretical model", Applied Optics, 21, 1663 (1982); 4) M. Gugliotti, Mauricio S. Baptista, Luis G. Dias, M. J. Politi, "Single-beam interface thermal lensing", Applied, Optics, 38, 1213 (1999); 5) M. Martinelli, M. Gugliotti, R. J. Horowicz, "Measurement of refractive index change at liquid/solid interface close to the critical angle", Applied Optics, submetido.
FAPESP